Фотографічний спосіб визначення деформацій - новий розроблений нами безконтактний спосіб тензометрування. Суть методу полягає у визначенні відносної зміни відстаней між цифровими зображеннями міток нанесених на досліджуване тіло. Експериментальні дослідження вказують на точність методу 0,0001 відносної деформації. Даний метод не потребує проведення процедури градуювання. Далі...

Скануююча електронна мікроскопія та рентгеноспектральний мікроаналіз- метод аналізу поверхневої структури мікрооб’єкта шляхом аналізу відбитого «електронного зображення». Цей метод, винайдений в 1950-х роках, дозволяє отримувати зображення поверхні зразка з роздільною здатністю до кількох нанометрів. Зображення, які отримують в скануючому електронному мікроскопі, виглядають трьохмірними і зручними для вивчення структури поверхні. Додаткові методи дозволяють отримувати інформацію про елементний склад поверхневих шарів. Далі...